Pitch 1 - UNVEIL : Caractérisation simultanée de la taille et de la masse de toute nanoparticule de 20 à 300 nm — de la discrimination AAV vides/pleins au profilage des LNPs
16 avr. 2026 — 12:05 - 12:10Auditorium Descartes
Description
Présentation d'une nouvelle technologie sans marquage de caractérisation des nanoparticules entre 20 et 300 nm en solution (concentration, taille et masse)